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    • SPM300系列半導體參數測試儀

      介紹: 基于拉曼光譜半導體參數測試儀,具有非接觸、無損檢測、特異 性高的優點??梢詫Π雽w材料進行微區分析,空間分辨率< 800nm (典型值),也可以對樣品進行掃描從而對整個面進行均勻性分析。 設備具有智能化的軟件,可對數據進行擬合計算,直接將載流子濃度、 晶化率、應力大小或者分布等結果直觀的展現給用戶。
      品牌: Zolix
      型號: SPM300系列
    • SPM600系列半導體參數分析儀

      介紹: SPM600系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統。系統集成高精度光譜掃描、光電流掃描以及光響應速率測試。40um探測光斑,實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試,是半導體微納器件研究的優選。
      品牌: Zolix
      型號: SPM600
    • SPM900系列少子壽命成像測試儀

      介紹: SPM900系列少子壽命成像測試儀在顯微鏡上加載少子壽命測試模塊,對于微小型器件的研究及質量控制十分重要。系統主體包括顯微鏡主體、激光光源、光子計數檢測器、單色儀及自動XY樣品臺等部分,可實現微區單點少子壽命測量和少子壽命成像檢測。
      品牌: Zolix
      型號: -
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