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硅晶圓檢測儀SIT-200
介紹： SIT-200 硅晶圓檢測儀是Alnair Labs 公司采用高速掃頻激光器，利用干涉計量的方法設計制造的用于硅晶圓厚度檢測的干涉儀。與常規測厚采用寬帶光源不同，可調諧激光器具備很高的功率譜密度，從而提高了測量的動態范圍，因此，SIT-200 支持非拋光的晶圓測量，例如在濕刻過程中以及濕刻之后的晶圓。品牌： 日本 Alnair Labs型號： SIT-200 -
頻分復用光時域反射儀FOTDR-300
介紹： FOTDR-300 頻分復用相干光時域反射儀(Frequency-Division-Multiplexed Coherent OTDR) 不同于傳統的C-OTDR。它在同一個時間段內發送不同頻率的多個探針脈沖，從而在同樣的測試時間內獲取更多的數據，因此可以在相同時間內獲得更高的信噪比，或者在同等信噪比下大幅度縮減測量時間。品牌： 日本 Alnair Labs型號： FOTDR-300 -
可編程光延時器ADL-200
介紹： ADL-200 可編程光延時器提供高達2.5ns 的可調延時，具備低插損、低損耗起伏的特征，適合各種延遲線應用。品牌： 日本 Alnair Labs型號： ADL-200 -
光學多功能測試儀OMT
介紹： OMT 系列光學多功能測試儀用于光學器件及通訊系統的測試與評價。OMT 主機框提供GPIB 及Ethernet 接口，用于遠程操作和讀取測量模塊。靈活組合的光功率計、衰減器及交換機可根據應用場景構成特定的測試儀器，并可與其他系統集成，構成自動化測試系統。品牌： 日本 Alnair Labs型號： OMT-1110,OMT-1360,OMT-1330,OMT-1410,OMT-15 -
摻鉺光纖放大器EDFA
介紹： Alnair Labs 提供兩款EDFA，<3W 功耗、最高輸出20dBm 的EFA-200C 以及50dB 光學增益、噪聲系數3.8dB 的低噪聲EDFA LNA-220。品牌： 日本 Alnair Labs型號： EDFA EFA-200C,EDFA LNA-220 -
可調諧FBG 濾波器WTF-200
介紹： WTF-200 可調諧FBG 濾波器采用壓縮FBG 的方式進行調節。與傳統的伸展式調節相比，調諧范圍更寬，典型調諧范圍可達20nm。品牌： 日本 Alnair Labs型號： WTF-200 -
超窄線寬可調諧濾波器CVF-300CL/ BVF-300CL
介紹： CVF-300CL/ BVF-300CL 分別為可編程/ 手動的超窄線寬可調諧濾波器：中心波長可調，濾波線寬最小可達30pm（3.7GHz），可達1500dB/nm 的濾波斜率。品牌： 日本 Alnair Labs型號： CVF-300CL,BVF-300CL
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