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    類別

    • SPM300系列半導體參數測試儀

      介紹: 基于拉曼光譜半導體參數測試儀,具有非接觸、無損檢測、特異 性高的優點??梢詫Π雽w材料進行微區分析,空間分辨率< 800nm (典型值),也可以對樣品進行掃描從而對整個面進行均勻性分析。 設備具有智能化的軟件,可對數據進行擬合計算,直接將載流子濃度、 晶化率、應力大小或者分布等結果直觀的展現給用戶。
      品牌: Zolix
      型號: SPM300系列
    • 激光粒徑儀

      介紹: ELSZ-2000激光粒徑儀提供快速、準確、便捷的粒徑大小測試,界連電位測試以及分子量的測試。 該分析儀可在0.6納米至10微米粒度范圍內進行粒徑測量,-200到200mV間進行界達電位測量。
      品牌: 日本 大塚電子
      型號: ELSZ-2000
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