CCD相機、激光器、激光功率計、光柵光譜儀、鎖相放大器、色度計

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激光器

超快激光器納秒脈沖激光器高重頻脈沖固體激光器高功率連續DPSS激光器小型固體激光器半導體激光器更多>>

激光測量

激光功率能量計激光光斑分析儀激光波長計與頻譜儀波前位相測量激光防護

光通訊與傳感

通訊用波長計及頻譜儀通訊光源通訊儀器設備光通訊器件 OCT與傳感

設備與光學元器件

太赫茲設備與器件激光元器件儀器設備積分球標準反射板及色板

科學成像與探測

科學級CCD相機科學級SCMOS相機 EMCCD相機 ICCD相機 ISCMOS相機軟X射線相機更多>>

光譜儀

光柵光譜儀掌上光譜儀高光譜真空單色儀/光譜儀真空光譜系統穩態瞬態熒光光譜儀更多>>

應用系統方案

半導體光學參數檢測等離子體裝置光譜診斷超快光譜與成像燃燒過程診斷元素在線分析遠程與工業拉曼檢測更多>>

通用儀器設備

通用科學電子儀器通用分析設備真空檢測設備通用測試設備時間與頻率設備小型恒溫器更多>>

光電傳感器

微光探測器 X射線源 X射線熒光探測器軟X射線探測器紅外探測器氣體傳感器更多>>

光度與色度測試儀

分光輻射亮度色度計照度計成像亮度色度計頻閃儀反射式膜厚儀量子效率測試系統

光度與色度測試系統

顯示屏光學測試系統 OLED/QLED光電特性測試系統 MicroOLED/MLED 測試系統汽車光學測試系統 VR/AR 測試系統光源與照明測試系統更多>>

探測器與光學模組計量

成像傳感器校準系統遙感校準系統高速相機

精密機械與自動化

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激光器激光測量光通訊與傳感設備與光學元器件科學成像與探測光譜儀應用系統方案通用儀器設備光電傳感器光度與色度測試儀光度與色度測試系統探測器與光學模組計量精密機械與自動化
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工業與信息化

先進制造
激光加工在線監測激光加工自動光學檢測超快微加工激光焊接匙孔監測分束與光斑整形鍍膜監控無損檢測微量氣體分析元件數量封裝清點激光防護

顯示與照明
ACR環境對比度測試 Trulume顯示屏測試攝像頭平場校準系統傳感器量子效率測試系統準直均勻光源分布光度計 VR/AR 測試系統 IVL&EQE光學測試系統 LCD顯示屏光學測試系統光源照度測試自動光學檢測玻璃/表面檢測制程監控 LED顯示屏測試薄膜測試光源及燈具測試表面形貌檢測激光防護激光剝離面板修補顯示屏測試

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新風系統二氧化碳檢測手機屏幕光學性能評價電視屏幕自動光學測試自動化設備隔振 3C產品生產和檢測的自動化裝置攝像頭平場校準傳感器量子效率測試手機鏡頭/傳感器測試 VCSEL測試數字影院光學測試 VR/AR 測試攝像頭測試健康監測無損檢測 AOI 自動光學檢測玻璃/表面檢測膜厚測試貼膜測試光學測試設備激光加工攝像機鏡頭測量 AR/VR 設備測量紫外切割超快微加工顯示屏測試激光安全認證

半導體與集成電路
Wafer檢測表面形貌成像 EUV光源檢測失效分析 EUV器件檢測多晶硅片二維定向 AOI 自動光學檢測無損檢測微量氣體分析

通訊與信息技術
FBG刻寫器件網絡測試光學A/D 光源測試光纖準直 PLC測試 GPS/北斗授時光通信器件生產和檢驗系統

激光產業
激光功率能量測試光束品質分析 FBG刻寫波長測試激光顯示測試激光器光路調整激光波前測試激光防護激光器隔振裝置

工業檢測
氣體檢測平整度、翹曲度測試系統傳感器量子效率測試

汽車與交通
發動機燃燒診斷車身及電池焊接監測激光雷達 PIV HUD 膜厚測試儀道路監控系統火車輪轂溫度測試儀車燈儀表盤測試車燈照度測試儀表盤測試汽車整車光學測試系統汽車照明檢測方案轎車整車熱成像檢測方案激光雷達生產和檢測位移機構激光雷達反射測試

能源動力

清潔燃燒
LII PLIF/LIF PIV

新能源與儲能
超快光譜學/超快加工太陽能電池片檢測量子效率測試溶液粒徑分析

農林與資源

農林與資源
生物自熒光 LIBS 精準農業/資源勘探生物拉曼礦石分選氣體分析儀 TOC有機總碳測試土壤中二氧化碳測試

科學研究

分析與測試
量子點光學測試紅外光譜測試時間分辨測試時間分辨光譜真空分析溶液粒徑分析薄膜膜厚測量拉曼測量熒光壽命反射光譜太赫茲光譜與成像激光測量 LIBS XRF測試 LIBS/熒光/拉曼/ 吸收光譜光譜測試光譜激發

催化與物理化學
超快光譜學激光閃光光解 VMI 時間分辨測量薄膜膜厚測量量子效率測試溶液粒徑分析真空分析時間分辨光譜

高能與核科學
Tokamak診斷 LIBS 時間分辨測量真空分析時間分辨光譜高能輻射測試

超快與強場科學
激光測量超快激光測試泵浦源軟X射線診斷硬X射線診斷超快激光器自適應光學太赫茲器件特種激光鏡片物理影像 VMI 光譜診斷時間分辨測量時間分辨光譜飛秒激光Z掃描中電動滑臺

原子分子與量子物理
原子冷卻激光測量量子光學光梳激光器/光梳測量時間分辨測量量子效率測試溶液粒徑分析頻譜分析頻率計數亮度及光譜測試

天文觀測
光度/輻射度測試自適應光學微弱信號處理雜散光測試系統天文相機/探測器校準

考古與文物鑒定
LIBS 壁畫文物顏色檢測

大科學裝置
X射線成像/光譜可見光成像 PET-CT 光學授時與同步時間分辨測量單晶/合金信號同步成像

生物與健康

組織成像
CARS/SRS 光聲光譜與成像 OCT 血管成像顯微成像顯微位移機構藍光危害評價光源頻閃測試眩光測試紫外殺菌燈輻射度測量防曬指數測量

生物顯微
顯微成像 CARS/SRS 光束整形/渦旋光光鑷/ 生物熒光細胞干物質計量生物熒光拉曼生物自熒光熒光壽命拉曼測量醫學光度色度測試醫用照明測試

臨床醫學
醫療激光認證化學發光測試儀光聲光譜與成像激光醫美血球分析多通道光子數據采集 CT/DR 呼吸末CO2、麻醉氣體血氧測試儀

化學與生物分析
伽馬和阿爾法輻射測試儀氣體分析生化分析薄膜膜厚測量量子效率測試溶液粒徑分析

環境監測
TDLAS 激光雷達熒光檢測大氣雷達/LIBS/環境質譜環境質譜環境檢測地物高光譜拉曼測量食品異物檢測 VOC有害氣體檢測 TOC有機總碳測試

食藥環偵

食品安全測試
近紅外光譜測試拉曼測量薄膜膜厚測量溶液粒徑分析食品中異物檢測

刑偵科學
指紋鑒定拉曼測量背散射成像 X射線安檢火災探測

安防

無損檢測
人體/行李違禁物檢測

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空天動力
PIV PLIF/PIV 燃燒診斷 PLIF 雜散光吸收激光雷達單晶/合金遙感輻射度標定太陽/星光光譜模擬遙感鏡頭雜散光模擬測試

空地遙感
空間觀測與LIDAR 空間光通訊液晶可調濾光片雜散光吸收遙感高光譜成像深空成像系統標定高光譜成像校準

計量檢疫

時頻基準
原子冷卻光梳時間頻率標定

激光認證
光度色度計量照度計量

激光器篩選

波長范圍：
全部深紫外（<200nm）紫外 (200 ~ 400nm）藍紫 (400 ~ 500nm）黃綠 (500 ~ 600nm) 紅色 (600 ~ 800nm) 近紅外 (0.8 ~ 2.5μm）中遠紅外 (>2.5μm) 可調諧

輸出方式：
全部連續或準連續脈沖

平均功率：
全部 <1mW 1mW ~ 1W 1W ~ 10W 10W ~ 100W >100W

單脈沖能量：
全部 <1nJ 1nJ ~ 1μJ 1μJ ~ 1mJ 1mJ ~ 100mJ 100mJ ~ 1J >1J 不適用

脈沖寬度：
全部飛秒（<1ps）皮秒（1ps ~ 1ns）納秒（1ns ~ 1μs）長脈沖（>1μs）不適用

重復頻率：
全部 1~999Hz 1kHz~10kHz 10kHz~100kHz 100kHz~1MHz 1MHz~100MHz >100MHz 不適用

線寬：
全部窄線寬不適用

科學相機篩選

相機類型：
全部 CCD EMCCD sCMOS ICCD NIR CCD SWIR 直接x-ray探測器非直接X-ray探測器中子相機

像面尺寸：
全部 ≤512ⅹ512 512ⅹ512~ 1024ⅹ1024 1024ⅹ1024~ 2048ⅹ2048 2048ⅹ2048~ 4096ⅹ4096 ≥4096ⅹ4096

通訊方式：
全部 USB 2.0 USB 3.0 Fibre Optic CoaXPress (4 Lane CXP-6) Camera Link Gigabit Ethernet

芯片感光方式：
全部前照式背照式

響應范圍：
全部 200-1100nm 200-900nm 600-1700nm 800-2200nm 900-1700nm EUV-1keV NIR-20KeV 2-100keV 1-300KeV

最快全畫幅幀率（fps）：
全部 <1 1~ 50 50~ 100 >100

像素：
全部 1~ 5μm 5~ 10μm 10~ 15μm 15~ 20μm 20~ 25μm 25~ 30μm ≥30μm
010-62634840
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棱鏡耦合儀Model 2010

介紹： Metricon公司的Model 2010棱鏡耦合儀使用先進的光波導技術，對電介質及聚合物膜的膜厚和折射率/ 雙折射進行快速及準確的測量。對于許多薄膜及光波導用途，Model 2010 提供了比以橢圓光度法或分光光度法為基礎的傳統儀器更獨特的技術。

品牌： 美國 Metricon

型號： Model 2010

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橢圓偏振光測量儀FE5000

介紹： 通過自動多角度橢圓偏振光測量儀實現高速的薄膜膜厚測量和高精度的光學常數解析

品牌： 日本大塚電子

型號： FE5000

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膜厚測量儀FE-300

介紹： 小型?低價格！簡單操作”非接觸”膜厚量測儀FE-300！

品牌： 日本大塚電子

型號： FE-300

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反射式膜厚測量儀FE-3000

介紹： 可完美對應所有基板上多層膜測量的光干涉膜厚儀。實績很多。高精度，高感度從薄膜到厚膜的廣范圍多層膜分析

品牌： 日本大塚電子

型號： FE-3000

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膜厚測量儀FE-3

介紹： 對于具有波長依賴性的多層膜，可以實現高精度測量！

品牌： 日本大塚電子

型號： FE-3

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OPTM 半導體膜厚測試儀

介紹： 測量目標膜的絕對反射率，實現高精度膜厚和光學常數測試！（分光干渉法）

品牌： 日本大塚電子

型號： optm

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