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A-TAKT™ :FPD產線用光譜式亮度計
介紹: 光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了高精度的亮度、色度測量?,F有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research的A-TAKT?系列光譜式輻射度計彌補了這一不足,實現了光譜式精度的實時產線測試。品牌: 美國 Photo Research型號: A-TAKT™ -
PR-788寬動態范圍的分光輻射亮度計
介紹: Photo Research 公司擁有幾十年的光度計生產制造經驗,并推出超靈敏光譜測試系統 - 制冷型號探測器PR-730/735 和 PR-740/745 , PR-788 光譜式光度色度輻射度計。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆蓋可見光譜,從 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆蓋 380nm 到1080nm 可見光到近紅外光譜波段,是針對近紅外輻射度測試的最佳方案。PR-788 具有業界領先的 1000000:1 的動態范圍,它提供了在不必增加外部衰減或改變幾何光學(例如測量場地尺寸)的情況下,即可從黑到全白測試設備輸出的解決案。品牌: 美國 Photo Research型號: PR-788 -
PR-740/745高靈敏度制冷型分光輻射亮度計
介紹: Photo Research 公司擁有幾十年的光度計生產制造經驗,并推出超靈敏光譜測試系統 - 制冷型號探測器 PR-730/735 和 PR-740/745 , PR-788 光譜式光度色度輻射度計。PR-730 和 PR-740, PR-788 覆蓋可見光譜,從 380nm 到 780nm, 而 PR-735 和 PR-745 覆蓋 380nm 到1080nm 可見光到近紅外光譜波段,是針對近紅外輻射度測試的最佳方案。PR-788 具有業界領先的 1000000:1 的動態范圍,它提供了在不必增加外部衰減或改變幾何光學(例如測量場地尺寸)的情況下,即可從黑到全白測試設備輸出的解決方案。品牌: 美國 Photo Research型號: PR740/745 -
VR/AR/MR光學測試系統
介紹: 針對虛擬顯示光度色度測量,具有高穩定性、高準確性、高性價比的可用于計量校準的高精度測試儀器品牌: 美國 Photo Research型號: -