快速掃描測量系統
簡 述：
快速掃描測量系統整合了TSL 可調諧激光器、MPM 光功率計、PCU 偏振控制器及根據用戶需求自定義的軟件，為R&D 及生產環境的IL、WDL、PDL 測試提供快速、多功能、全自動的平臺。系統同時采集可調諧光源的輸出功率及DUT 透過的光功率作實時參比，獲取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩陣方法）。
品 牌：
日本 Santec
產品型號：
- 快速掃描測量系統
新聞
更多快速掃描測量系統整合了TSL 可調諧激光器、MPM 光功率計、PCU 偏振控制器及根據用戶需求自定義的軟件，為R&D 及生產環境的IL、WDL、PDL 測試提供快速、多功能、全自動的平臺。系統同時采集可調諧光源的輸出功率及DUT 透過的光功率作實時參比，獲取高精度的IL、WDL 以及PDL（采用Muller 矩陣方法）。
性能優勢
• 實時功率參考：高精度的WDL/PDL 測試
- 功率可重復性<±0.02dB
- PDL 可重復性＜ ±0.01dB
• 縮放運算：高波長精度/ 節省測量時間
• 支持多通道測量
• 支持圖形介面軟件及編程接口（DLL）
主要應用
• 器件和模塊光學特性測試：
- 可調諧濾波器，插入器，FBG，
耦合器，分光器，隔離器，開關 .....
- WSS 及波長阻斷器
- DWDM 器件
• 硅光子材料表征，包括微腔環形諧振器
• 光譜
• 干涉測量
配置
多站測試
測試示例
多站測試
多站測試中，TSL、PCU與MCU 構成一個服務中心，分發觸發信號及光束到不同的測試站。每個測試站包括功率計和客戶端PC。在運行過程中，TS持續的掃頻，使得每個測試站可以獨立而并行地工作。多站測試架構極大提升了高精度測量與分析的效率。
測試示例
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