A-TAKT™ ：FPD產線用光譜式亮度計
簡 述：
光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了高精度的亮度、色度測量?，F有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research的A-TAKT?系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。
品 牌：
美國 Photo Research
產品型號：
- A-TAKT™
新聞
更多眾所周知，光譜式測量為CCFL、LED 背光LCD 及OLED 等平板顯示技術提供了最高精度的亮度、色度測量?，F有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research 的A-TAKT™ 系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。
A-TAKT™ 系列包含三款——V-7HS、V-7WD 和V-6AQL。V-7HS是三者中靈敏度最高、測試速度最快的機型，能夠在僅250ms的測試時間內實現0.5cd/m2 的微弱亮度測試（如測試LED 背光LCD）；V-7WD 則提供了高速測量的解決方案，針對LCD 背光模組等具備更高光強的測試；而V-6AQL 則提供了更低成本的解決方案，針對關鍵環節的測量，如AQL、IQC 及OQC 等。
所有三款機型都是基于CCD 進行探測而不需通過目鏡觀測，同時可調取、使用測試對象的圖像。RS232 和USB 接口以及加固的附件可增加儀器在惡劣環境中的使用安全。自帶的1/4-20 SAE 螺紋孔使得儀器非常便于安裝和固定。
物鏡可從定焦50mm 到變焦75mm 的鏡頭中進行選擇；也可根據用戶實際產線測試需求進行定制鏡頭。您也可以選擇帶有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽測試時的外界環境雜散光的影響。
A-TAKT™ 系列測試設備支持通過文本編程通訊協議或SDK 進行控制，并與Windows Vista 32 或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。
靈活的定制
高精度，快速測量，針對于低亮測試應用-V-7HS
A-TAKT™ V-7HS
快速，高光譜分辨率，適用于高亮發光源的測試-V-7WD
A-TAKT™ V-7WD
經濟、便攜的解決方案，適用于QC/QA 測試-V-6AQL
A-TAKT™ V-6AQL
由于產線測試環境的不同（如工作距離、測試區域和系統控制接口等），A-TAKT™ 可提供不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發的SDK 包以便更快捷、輕松的集成到用戶的ATE 系統。
為確保A-TAKT™ 始終保持測試的精準度和重復測試精度，我們集成了“EasyProfile”技術——針對A-TAKT™ 不同測試對象的自分析技術，所得分析數據使設備在確?？茖W級的準確性和精確度前提下實現最快的測試速度。
為確保A-TAKT™ 始終保持測試的精準度和重復測試精度，我們集成了“EasyProfile”技術——針對A-TAKT™ 不同測試對象的自分析技術，所得分析數據使設備在確?？茖W級的準確性和精確度前提下實現最快的測試速度。
A-TAKT™ 控制軟件
• A-TAKT™ SDK 軟件包使得A-TAKT™ 系列測試設備非常方便的實現與您的不同產線測試環境集成、控制；
• 與Windows Vista, Windows 7, Windows 8-32/64 或MAC OS X10.7+ 兼容；
• "EasyProfile" 最優化功能確保得到最快、最精準的測試結果；
• 選取、調用測試目標圖像；
• 儀器控制——設置，測試和數據收集；
• 可定制的軟件選項確保A-TAKT™ 系列測試設備與您的產線測試需求實現最優化的整合。
高精度，快速測量，針對于低亮測試應用-V-7HS
A-TAKT™ V-7HS
• 在不影響測試精準度和重復測試精度的前提下，最短時間內實現最大數量的產品測試；
• 幾秒鐘內實現完整的灰度等級、Gamma 和色度測試（取決于亮度等級和測試數量）；
• 近乎實時的高精準、高重復性光譜輻射度計；
• 熱電制冷保持產線測試環境中的測試穩定性；
• 毫秒時間內實現極低亮度的測試；
• 可針對您的不同測試需求進行定制。
快速，高光譜分辨率，適用于高亮發光源的測試-V-7WD
A-TAKT™ V-7WD
• 針對FPD 背光模組等高亮發光源的極高精準度和重復精度的最優化測試；
• 近乎實時的高精準、高重復性光譜輻射度計；
• 熱電制冷保持不同產線測試環境中的測試穩定性；
• 快速、高光譜分辨率，針對高亮背光模組、LED 模組等；
• 可針對您的不同測試需求進行定制。
A-TAKT™ V-6AQL
• 為您的AQL 應用提供非常精準的光譜式解決方案；
• 簡潔的工業檢測量身定制；
• 光譜式設計保證精準度和重復精度，滿足或優于您的生產需求；
• 可針對您的不同測試需求進行定制。
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