PSEL勞厄單晶取向測試系統
簡 述：
系統附件包括：
? 勞厄X-RAY 探測器
? 勞厄校準軟件
? 高亮度X-RAY 發生器
品 牌：
英國 PhotonicScience
產品型號：
- PSEL
新聞
更多PSEL勞厄單晶取向測試系統：
• PSEL 軟件定向誤差低至 0.05 度；
• 多晶硅片二維定向mapping；
• 大批量樣品篩選；
• 超20kg 重負荷樣品定位
• 超大行程樣品臺可選，用于“燃機葉片”等測試；
• 工廠接收客戶需求定制
水平放置系統
垂直放置系統
配備PSEL CCD 背反射勞厄X-RAY 探測器：
• 有效輸入探測面約： 155*105 mm
• PSEL 軟件定向誤差低至 0.05 度；
• 多晶硅片二維定向mapping；
• 大批量樣品篩選；
• 超20kg 重負荷樣品定位
• 超大行程樣品臺可選，用于“燃機葉片”等測試；
• 工廠接收客戶需求定制
水平放置系統
| 特征 | 優點 |
| <200um 光束尺寸 | 可測量小 晶體 |
| 電動位移臺 | 可沿生長軸軸向掃描 |
| 電動角位移 | 與同步加速器/中子設備直接兼容 |
| 手動角位移 | 與切割刀具直接兼容 |
| 特征 | 優點 |
| <200um 光斑 | 適用于小晶粒的多晶結構 |
| 大范圍電動線性掃描位移臺 | 允許自動晶圓mapping或多個樣品 |
| 電動Z 軸驅動 | 適用大尺寸晶棒或樣品 |
| 手動角位移 | 允許定位到+/- 0.02度精度 |
• 有效輸入探測面約： 155*105 mm
• 最小輸入有效像素尺寸83um，1867*1265 像素陣列
• 可選曝光時間從1ms 到35 分鐘
• 芯片上像素疊加允許以犧牲分辨率為代價增強靈敏度
• 自動背景扣除模式
• 16 位高精度采集模式
• 12 位快速預覽模式
• PSEL 勞厄影像采集處理專業軟件
勞厄影像校準軟件：
PSEL勞厄單晶取向測試系統應用方向：
• 自動檢測衍射斑點，并根據參考晶體計算斑點位置；
• 勞厄X-RAY 探測器
• 勞厄校準軟件
• 高亮度X-RAY 發生器
• 電動/ 手動 角位移臺& 高精度位移臺；
• 樣本定位/ 視頻監控 攝像頭；
• 激光距離傳感器/ 操縱桿
• 根據測角儀和晶體軸自動計算定向誤差( 不需要手動擬合扭曲的圖形)
• 以CSV 格式保存角度測量值，以進一步保證質量的可追溯性；
• 頂部到底部的終端用戶菜單，允許資深結晶學用戶自行逐步確認定位程序；
• 基于Python 的軟件，允許使用套接字命令對現有軟件/ 系統進行遠程訪問控制；
系統附件包括：• 勞厄X-RAY 探測器
• 勞厄校準軟件
• 高亮度X-RAY 發生器
• 電動/ 手動 角位移臺& 高精度位移臺；
• 樣本定位/ 視頻監控 攝像頭；
• 激光距離傳感器/ 操縱桿
• 探測器材料： HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb;
• 窗口玻璃材料& 壓電/ 鐵電陶瓷： Al2O3,Quantz，LiNbO3
• 金屬合金： 鎢，鉬，鎳基合金；
• 激光晶體材料： YAG, KTP, GaAs
• 薄膜/ 半導體基地材料： AIN, InP SiC;
• 燃氣輪機葉片；硅基，鎳合金
• 磁性& 超導材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe， NbSn/NbTi
• 閃爍體材料： BGO/LYSO, CdWO4,BaF2/CaF2;
典型勞厄衍射應用圖樣：
• 磁性& 超導材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe， NbSn/NbTi
• 閃爍體材料： BGO/LYSO, CdWO4,BaF2/CaF2;
典型勞厄衍射應用圖樣：
13810233784
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